走査型電子顕微鏡(SEM-EDS)受託業務のご案内

  SEM(走査型電子顕微鏡)は、電子線を絞って電子ビームとして試料表面上を走査させて照射し、試料表面から放出される二次電子や反射電子と検出することで、試料表面の形状を高倍率で観察することができます。

  また、EDS装置は二次電子や反射電子と同時に放出される特性X線を利用して元素分析(B(ボロン)~ U(ウラン)の分析が可能)を行うことができ、特に軽元素の分析に威力が発揮されます。

  さらに、SEM-EDS測定では、表面の凹凸状態や組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。

  当事業団では、SEM-EDS装置の受託業務を下記料金でご提案させて頂きます。

業務内容 分析料金(税込み)
SEM観察(SEM画像1枚:倍率は20~10,000倍) 10,000円(11,000円)
SEM-EDS測定(SEM画像1枚 EDS分析1地点) 15,000円(16,500円)
SEM画像 1枚追加 5,000円(5,500円)
EDS分析 1地点追加 5,000円(5,500円)
EDSマッピング測定 25,000円(27,500円)

 

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SEM-EDS測定による観測例

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〇EDS分析(元素分析)の例

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〇EDSマッピング分析の例

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お問合せ

(一財)三重県環境保全事業団 科学分析部第二分析課

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